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美國阿貢國家實(shí)驗(yàn)室Bostjan Genorio課題組--調(diào)控缺陷氧化石墨烯和還原氧化石墨烯電化學(xué)界面的選擇性和活性

固液界面工程在發(fā)展未來能量存儲(chǔ)與轉(zhuǎn)換(ESC)裝置中起重要作用。這里,缺陷的氧化石墨烯(GO)和還原氧化石墨烯(rGO)被用來調(diào)控鉑圓盤電極的選擇性和活性。通過Langmuir-Blodgett技術(shù)將GO沉積在鉑電極上,獲得了緊湊且均勻的GO膜,這些膜再通過熱還原轉(zhuǎn)化為rGO。電化學(xué)測量表明,GOrGOPt電極的界面都對氧還原反應(yīng)(ORR)有選擇性,但對氫氧化活性沒有影響。原子分辨率的掃描透射電子顯微鏡(TEM),拉曼光譜,X射線光電子能譜(XPS)和掃描電子顯微鏡(SEM)揭示了H2O2以及與這些表面選擇性和活性有關(guān)的官能團(tuán)的可能擴(kuò)散位點(diǎn)?;谶@些認(rèn)識(shí),rGO界面被進(jìn)一步證明在非水環(huán)境中表現(xiàn)出增強(qiáng)的ORR活性,并且所提出的非原位方法有望發(fā)展下一代ESC裝置。

Figure 1. aLangmuir-Blodgett槽的示意圖,顯示了壓縮壁壘和浸入Pt圓盤電極的支架,(bGO單層典型的II-區(qū)等溫曲線,(cGO片在Pt圓盤電極上的SEM圖,對應(yīng)圖(b)中紅色區(qū)域,dGO片在Pt圓盤電極上的SEM圖,對應(yīng)圖(b)中藍(lán)色區(qū)域。

Figure 2. aGOHAADF-STEM圖,(bGOBF-STEM圖,三個(gè)指向缺陷的箭頭(可能的擴(kuò)散位點(diǎn))和六方形晶格,(c)碳,氧 K邊緣的EEL譜,圖(a)中標(biāo)記的紅色區(qū)域,(d)碳 K邊緣的EEL譜,圖(a)中標(biāo)記的灰色區(qū)域。

Figure 3. aGO@Pt和(brGO@Pt界面的C 1s XPS譜,通過座滴法測量了(cGO@Pt和(drGO@Pt界面相應(yīng)的接觸角。

Figure 4. 空白Pt,GO@PtrGO@Pt旋轉(zhuǎn)圓盤電極對ORRHOR的選擇性。(aHOR和(bORR極化曲線,(c)三種電極在高氯酸電解液中的循環(huán)伏安曲線,(drGO@Pt界面顯示了對HORORR的選擇性示意圖, 三種電極用于氧還原的(e)循環(huán)伏安曲線和(f)極化曲線。

 

該研究工作由美國阿貢國家實(shí)驗(yàn)室Bostjan Genorio課題組于2019發(fā)表在ACS Appl. Mater. Interfaces期刊上。原文Tuning the Selectivity and Activity of Electrochemical Interfaces with Defective Graphene Oxide and Reduced Graphene OxideDOI: 10.1021/acsami.9b13391

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