碳納米管(CNT)網(wǎng)狀薄膜場效應晶體管(TFTs)過去常常被認為是低成本和低性能的晶體管,一般用于顯示驅動或柔性電子設備,但最近已被用于構建數(shù)字集成電路(ICs)。盡管如此,關于如何實現(xiàn)CNT TFTs優(yōu)化的研究工作很少被報道。在這項工作中,制備了基于高質量和高純度的CNT薄膜亞微米TFTs,還研究了由于關態(tài)性能引起的潛在性能限制。具體來說,尺寸縮減在可提升器件性能的同時,也會明顯損壞亞閾值擺幅。實驗和理論模擬結果表明,隨機取向碳管薄膜晶體管的開態(tài)性能(跨導,gm)和關態(tài)性能(亞閾值擺幅,SS)之間存在著明顯的相互制約規(guī)律。因此,精心設計gm(120 mV dec-1)與SS(150μSμm-1)之間的平衡對于構建CNT TFTs是十分必要的,使其滿足施加電壓驅動數(shù)字集成電路的實際需求。
Figure 1. CNT材料的表征,(a)高質量CNT薄膜沉積在Si/SiO2基底上的SEM圖,(b)吸附曲線,(c)785 nm波長激發(fā)下的Raman光譜,(d)633 nm波長激發(fā)下的Raman光譜。
Figure 2.CNT網(wǎng)狀薄膜上TFTs的結構與表征。(a)TFT(通道長度為500 nm)的示意圖和SEM,(b)兩種TFT裝置的典型轉移曲線,(c)gm和SS的靜態(tài)分布,(d)gm和SS的轉移曲線示意圖。
Figure 3.單個CNTs上FETs的表征和模型。(a)在CNT網(wǎng)狀TFT(通道長度120 nm)中的有效通道長度分布,(b)單個CNTs上FETs的示意圖,(c)Lch-相關的Vth和Ion曲線,(d)CNTs FETs在不同通道長度下的轉移曲線。
Figure 4. CNT TFTs的性能極限探索。(a)TFTs在不同CNT密度下的模擬SS和(b)gm值,(c)網(wǎng)狀CNTs 基TFTs在不同參數(shù)條件下的SS和gm值,(d)最優(yōu)的CNT TFT(通道長度為120 nm)的實驗轉移和輸出曲線。
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該研究工作由北京大學張志勇聯(lián)合彭練矛課題組于2019年發(fā)表在Adv. Funct. Mater.期刊上。原文:Exploring the Performance Limit of Carbon Nanotube Network Film Field-Effect Transistors for Digital Integrated Circuit Applications(DOI: 10.1002/adfm.201808574)
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